Научно-технические публикации
-
alerm
- leader
- Сообщения: 683
- Зарегистрирован: 02 май 2012, 21:28
- Награды: 1
- Версия LabVIEW: 20
- Благодарил (а): 59 раз
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Научно-технические публикации
Хотелось бы узнать: кто где печатается (имеется в виду "центральная" печать) и по каким тематикам. Особенно интересно узнать о русскоязычных изданиях за пределами России.
Цели, которые я преследую этим, две:
1) возможность узнать что делается по определенной тематике в России (и СНГ) без долгого копания в нете (отсутствие свободного времени скоро будет казаться нормой );
2) если тематики совпадают, есть возможность "попиарить" друг друга.
Начну со своей тематики: исследование микро- и наноструктур. Особенно интересует НЧ шумовая спектроскопия.
Цели, которые я преследую этим, две:
1) возможность узнать что делается по определенной тематике в России (и СНГ) без долгого копания в нете (отсутствие свободного времени скоро будет казаться нормой );
2) если тематики совпадают, есть возможность "попиарить" друг друга.
Начну со своей тематики: исследование микро- и наноструктур. Особенно интересует НЧ шумовая спектроскопия.
- Вложения
-
- 1.pdf
- статья, кратко характеризующая мое научное направление
- (1.94 МБ) 311 скачиваний
- leo_k
- junior
- Сообщения: 59
- Зарегистрирован: 15 фев 2010, 15:43
- Версия LabVIEW: 8.6
- Откуда: Москва
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Добрый день.
По радиационной стойкости электроники есть две "крутых" зарубежных конференции: RADECS (европейская) и NSREC (США). Статьи в них принимают после рецензирования "уважаемых людей". На RADECS попасть попроще для российских авторов, на NSREC - сложнее (как правило ругаются на английский).
В целом, я думаю, надо посмотреть журналы общества IEEE (нужного сообщества).
Вот например статья вам по теме? (я просто не знаю специфики):
"Effect of interface roughness and morphology on the electrical behaviour of Au/n-GaAs Schottky diodes"
Искал тут: http://ieeexplore.ieee.org/search/searc ... as&x=0&y=0
Из наших журналов - я бы посмотрел журналы ВАК (полный список на сайте ВАК), т.к. они обязаны иметь английские версии статей (или анотаций не знаю точно). У журнала "Микроэлектроника" точно есть полный перевод статей.
Например: http://rd.springer.com/article/10.1134/ ... 9712040075
Для себя хорошо заказывать или скачивать книжки (был какой-то сайт сообщества китайских студентов со сканами книг - сейчас не могу найти) по тематике издательства Springer или IEEE - но это уже скорее обзоры, а не горячие новости.
Для себя я делал примерно так: смотрел статьи на IEEE, запоминал авторов (их как правило не больше 5..10), потом искал уже по авторам (как правило люди все время занимаются одной и той же темой).
По радиационной стойкости электроники есть две "крутых" зарубежных конференции: RADECS (европейская) и NSREC (США). Статьи в них принимают после рецензирования "уважаемых людей". На RADECS попасть попроще для российских авторов, на NSREC - сложнее (как правило ругаются на английский).
В целом, я думаю, надо посмотреть журналы общества IEEE (нужного сообщества).
Вот например статья вам по теме? (я просто не знаю специфики):
"Effect of interface roughness and morphology on the electrical behaviour of Au/n-GaAs Schottky diodes"
Искал тут: http://ieeexplore.ieee.org/search/searc ... as&x=0&y=0
Из наших журналов - я бы посмотрел журналы ВАК (полный список на сайте ВАК), т.к. они обязаны иметь английские версии статей (или анотаций не знаю точно). У журнала "Микроэлектроника" точно есть полный перевод статей.
Например: http://rd.springer.com/article/10.1134/ ... 9712040075
Для себя хорошо заказывать или скачивать книжки (был какой-то сайт сообщества китайских студентов со сканами книг - сейчас не могу найти) по тематике издательства Springer или IEEE - но это уже скорее обзоры, а не горячие новости.
Для себя я делал примерно так: смотрел статьи на IEEE, запоминал авторов (их как правило не больше 5..10), потом искал уже по авторам (как правило люди все время занимаются одной и той же темой).
- leo_k
- junior
- Сообщения: 59
- Зарегистрирован: 15 фев 2010, 15:43
- Версия LabVIEW: 8.6
- Откуда: Москва
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Забыл сказать важную вещь.
Любый публикации российских авторов в зарубежной прессе, участие в конференциях с докладом и т.д. должны иметь разрешение на публикацию "Экспортного совета" о том, что в материалах нет секретных данных.
Одним из основных условий для получения такого разрешения - публикация ваших данных сначала в российских журналах.
Поэтому просто взять и слить статью на западную конференцию или в журнал нельзя - можно хорошо присесть на долгий срок.
Любый публикации российских авторов в зарубежной прессе, участие в конференциях с докладом и т.д. должны иметь разрешение на публикацию "Экспортного совета" о том, что в материалах нет секретных данных.
Одним из основных условий для получения такого разрешения - публикация ваших данных сначала в российских журналах.
Поэтому просто взять и слить статью на западную конференцию или в журнал нельзя - можно хорошо присесть на долгий срок.
-
alerm
- leader
- Сообщения: 683
- Зарегистрирован: 02 май 2012, 21:28
- Награды: 1
- Версия LabVIEW: 20
- Благодарил (а): 59 раз
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
ну под центральной печатью я имел ввиду именно журналы из перечня ВАК, а не просто с ненулевым импакт-фактором
- leo_k
- junior
- Сообщения: 59
- Зарегистрирован: 15 фев 2010, 15:43
- Версия LabVIEW: 8.6
- Откуда: Москва
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Мы печатаемся в "Микроэлектронике", "Известия ВУЗов. Электроника", "Спецтехника и связь", "Вопросы атомной науки и техники". Насколько мне известно, только Микроэлектроника из них имеет полную англоязычную версию..
-
alerm
- leader
- Сообщения: 683
- Зарегистрирован: 02 май 2012, 21:28
- Награды: 1
- Версия LabVIEW: 20
- Благодарил (а): 59 раз
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
не согласен, хотя может у кого как, в ВУЗе, где я учусь/работаю, получить экспортное заключение можно за сутки - двоеleo_k писал(а): Одним из основных условий для получения такого разрешения - публикация ваших данных сначала в российских журналах.
- leo_k
- junior
- Сообщения: 59
- Зарегистрирован: 15 фев 2010, 15:43
- Версия LabVIEW: 8.6
- Откуда: Москва
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Тут нет противоречия. У нас если предоставите на заседание экспортного совета ксерокс статьи в российском журнале - само заключение делается сразу же. Сама статья не должна быть на 100% точно такой же, в ней просто должны быть опубликованы данные вашей заграничной статьи.
- leo_k
- junior
- Сообщения: 59
- Зарегистрирован: 15 фев 2010, 15:43
- Версия LabVIEW: 8.6
- Откуда: Москва
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Добрый день.
Вчера на конференции я вбросил информацию о приравнивании публикации в сборнике тезисов международной конференции статье в ВАК (как было раньше..)
Даю опровержение :)
В связи с тем, что многие конференции намеренно искусственно рассылают фиктивные приглашения представителям разных стран ВАК дал следующее разъяснение по этому поводу:
"В соответствии с п. 11 Положения о порядке присуждения ученых степеней материалы всесоюзных, всероссийских и международных конференций и симпозиумов являются научными работами, но не входят в Перечень." 25.05.2012
(http://vak.ed.gov.ru/ru/help_desk/list/faq/)
К сожалению, наши доклады на конференции NI не идут в зачет ВАКовских публикаций..
Вчера на конференции я вбросил информацию о приравнивании публикации в сборнике тезисов международной конференции статье в ВАК (как было раньше..)
Даю опровержение :)
В связи с тем, что многие конференции намеренно искусственно рассылают фиктивные приглашения представителям разных стран ВАК дал следующее разъяснение по этому поводу:
"В соответствии с п. 11 Положения о порядке присуждения ученых степеней материалы всесоюзных, всероссийских и международных конференций и симпозиумов являются научными работами, но не входят в Перечень." 25.05.2012
(http://vak.ed.gov.ru/ru/help_desk/list/faq/)
К сожалению, наши доклады на конференции NI не идут в зачет ВАКовских публикаций..
-
IvanLis
- guru
- Сообщения: 5467
- Зарегистрирован: 02 дек 2009, 17:44
- Награды: 7
- Версия LabVIEW: 2015, 2016
- Откуда: СССР
- Благодарил (а): 28 раз
- Поблагодарили: 88 раз
Re: Научно-технические публикации
не знаю как давно это былоleo_k писал(а):Вчера на конференции я вбросил информацию о приравнивании публикации в сборнике тезисов международной конференции статье в ВАК (как было раньше..)
но на моей памяти такого не было
Есть утвержденный список ВАК изданий и последнее время все материалы рецензируются.
Участие в конференции как правило приравнивается к апробации полученных результатов исследований. Есть исключения, но их мало .
Знание нескольких принципов освобождает от знания многих фактов!
Правила форума
Как добавить в сообщение картинку или файл
Конвертация / версий (форматов) VI
Как правильно задать вопрос...
Правила форума
Как добавить в сообщение картинку или файл
Конвертация / версий (форматов) VI
Как правильно задать вопрос...
-
alerm
- leader
- Сообщения: 683
- Зарегистрирован: 02 май 2012, 21:28
- Награды: 1
- Версия LabVIEW: 20
- Благодарил (а): 59 раз
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
чтот скучно сидеть перед компом ночью, может кто еще не спит?
собираюсь в скором времени писать статью, аннотации пока нет, есть только скелет, так сказать, но попробую описать содержание
итак: я хочу сделать основной упор на алгоритм, который будет в автоматическом режиме находить оптимальное число усреднений одного сигнала, опираясь на золотую середину между временем съема сигналов и случайной погрешностью (куча формул + одно небольшое нововведение на счет погрешности выборки). всё это применительно к низкочастотной шумовой спектроскопии
после НГ будет развернут криостат (наконец-то), так что + к вышеописанному будет реальный опыт и статья намечается в ФТП (я планирую где-то на февраль)
если у кого-то было что-то похожее (хотя бы немного), в личку жду статью со всеми регалиями (какой журнал, страницы, год и т.д.), чтобы не было путаницы скажу сразу: включать вижу смысл только ВАКовские статьи (или статьи в журналах с ненулевым импакт-фактором), остальные "пиарить" незачем
так что если кто-то хочет халявное цитирование - пишите
так же возможно, если мой научрук еще не отправил статью, попасть в статью в журнале "Датчики и системы", само собой надо иметь близкую тематику к следующему:
всё предложенное выше базируется лишь на альтруизме, повышать кому-то число цитирований на не подходящих статьях не намерен, даже за деньги
надеюсь, что и сам могу попасть в цитируемые списки за счет кого-нибудь :ru: :de: :uk:
собираюсь в скором времени писать статью, аннотации пока нет, есть только скелет, так сказать, но попробую описать содержание
итак: я хочу сделать основной упор на алгоритм, который будет в автоматическом режиме находить оптимальное число усреднений одного сигнала, опираясь на золотую середину между временем съема сигналов и случайной погрешностью (куча формул + одно небольшое нововведение на счет погрешности выборки). всё это применительно к низкочастотной шумовой спектроскопии
после НГ будет развернут криостат (наконец-то), так что + к вышеописанному будет реальный опыт и статья намечается в ФТП (я планирую где-то на февраль)
если у кого-то было что-то похожее (хотя бы немного), в личку жду статью со всеми регалиями (какой журнал, страницы, год и т.д.), чтобы не было путаницы скажу сразу: включать вижу смысл только ВАКовские статьи (или статьи в журналах с ненулевым импакт-фактором), остальные "пиарить" незачем
так что если кто-то хочет халявное цитирование - пишите
так же возможно, если мой научрук еще не отправил статью, попасть в статью в журнале "Датчики и системы", само собой надо иметь близкую тематику к следующему:
и да, я сам настаивал на другом журнале, ибо этот не совсем по тематике измерительных установок...Аннотация
В настоящей работе рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных (НЧ) шумов полупроводниковых диодных структур (диодов Шоттки, полупроводниковых датчиков и т.д.), приведены конструктивно-методологические особенности автоматизированной установки для измерения и исследования НЧ шумов в полупроводниковых структурах.
Выводы
Рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии НЧ шумов полупроводниковых диодных структур, физические модели генерации НЧ шума в полупроводниковых диодных структурах, а также конструктивно-методологические особенности установки для исследования полупроводниковых диодных структур методом спектроскопии НЧ шумов. Разработана автоматизированная установка, предложены новые конструктивные решения и алгоритм обработки данных в среде инженерно-графического программирования LabVEIW. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ, с использованием оборудования Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования при Рязанском государственном радиотехническом университете.
всё предложенное выше базируется лишь на альтруизме, повышать кому-то число цитирований на не подходящих статьях не намерен, даже за деньги
надеюсь, что и сам могу попасть в цитируемые списки за счет кого-нибудь :ru: :de: :uk:
-
Pavel Krivozubov
- professor
- Сообщения: 4421
- Зарегистрирован: 07 фев 2008, 16:39
- Награды: 3
- Версия LabVIEW: 7.0 - 2013
- Откуда: г. Электросталь
- Благодарил (а): 24 раза
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Будем помогать друг-другу)
Выслал в личку. В открытый доступ выложить не могу, так как тематика и кафедра полузакрытые.
"Повышение точности импульсной рефлектометрии на основе согласованной фильтрации с учетом экспериментальных оценок статистических характеристик шума"
Журнал «Вопросы защиты информации», №3, 2011 год.
Выслал в личку. В открытый доступ выложить не могу, так как тематика и кафедра полузакрытые.
"Повышение точности импульсной рефлектометрии на основе согласованной фильтрации с учетом экспериментальных оценок статистических характеристик шума"
Журнал «Вопросы защиты информации», №3, 2011 год.
Правила форума
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook
-
alerm
- leader
- Сообщения: 683
- Зарегистрирован: 02 май 2012, 21:28
- Награды: 1
- Версия LabVIEW: 20
- Благодарил (а): 59 раз
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
почитаю вечером, страницы бы ещеPavel Krivozubov писал(а):Будем помогать друг-другу)
Выслал в личку. В открытый доступ выложить не могу, так как тематика и кафедра полузакрытые.
"Повышение точности импульсной рефлектометрии на основе согласованной фильтрации с учетом экспериментальных оценок статистических характеристик шума"
Журнал «Вопросы защиты информации», №3, 2011 год.
-
Pavel Krivozubov
- professor
- Сообщения: 4421
- Зарегистрирован: 07 фев 2008, 16:39
- Награды: 3
- Версия LabVIEW: 7.0 - 2013
- Откуда: г. Электросталь
- Благодарил (а): 24 раза
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
А зачем? В ссылках на литературу к статьям не обязательно указывать страницы.
Не помню, журналы у руководителя просто..
Не помню, журналы у руководителя просто..
Правила форума
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook
-
Pavel Krivozubov
- professor
- Сообщения: 4421
- Зарегистрирован: 07 фев 2008, 16:39
- Награды: 3
- Версия LabVIEW: 7.0 - 2013
- Откуда: г. Электросталь
- Благодарил (а): 24 раза
- Поблагодарили: 9 раз
- Контактная информация:
Re: Научно-технические публикации
Я не понимаю, может мы о разных вещах говорим. Вот например как оформлен мой список литературы к этой статье в журнале из перечня ВАК:
Литература
1. Бельчиков А.В., Кривозубов П.А. Обзор и анализ средств обеспечения безопасности проводных телекоммуникационных систем// Вопросы защиты информации, №1, 2011.
2. Тихонов В.И. Оптимальный прием сигналов. М.: Радио и связь, 1983.
3. Бережная Е.В., Бережной В.И. Математические методы моделирования экономических систем. М.: Финансы и статистика, 2006.
4. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах. Пер. с англ. - М.: Мир, 1986
5. Кривозубов П.А. Методика подавления шумов рефлектограмм при применении метода импульсной рефлектометрии. Сборник трудов международного конгресса «Коммуникационные технологии и сети» (CTN-2010). Москва, МТУСИ, 2010.
где там страницы?
Литература
1. Бельчиков А.В., Кривозубов П.А. Обзор и анализ средств обеспечения безопасности проводных телекоммуникационных систем// Вопросы защиты информации, №1, 2011.
2. Тихонов В.И. Оптимальный прием сигналов. М.: Радио и связь, 1983.
3. Бережная Е.В., Бережной В.И. Математические методы моделирования экономических систем. М.: Финансы и статистика, 2006.
4. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах. Пер. с англ. - М.: Мир, 1986
5. Кривозубов П.А. Методика подавления шумов рефлектограмм при применении метода импульсной рефлектометрии. Сборник трудов международного конгресса «Коммуникационные технологии и сети» (CTN-2010). Москва, МТУСИ, 2010.
где там страницы?
Правила форума
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook
Developlabs - IT услуги - ждём Ваших заказов на написание программ
Новостной канал о LabVIEW и технологиях NI на Facebook